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当サイトのご利用について
お知らせ
共通機器室の機器を利用する際には、共通機器室利用登録申請を行い、本サイトから機器の予約を行ってください。機器を利用した際には、機器に備え付けてある使用簿に必要事項を記載してください。
教員が管理する共通機器を利用する際には、管理教員と連絡調整の上使用してください。

○共通機器に関する規程、様式、注意事項等

○利用マニュアル

問い合わせ先:共用機器基盤センター(研究支援課研究企画係)
TEL:0155-49-5342、5287
FAX:0155-49-5289
E-mail:kyotukiki@obihiro.ac.jp
2018/08/15 共通機器の基本料及び利用料単価表(機器一覧)を更新しました
2018/07/23 講習会DVDの貸出について
2018/07/10 故障中の機器について
2018/04/17 共通機器室の利用実績を公開しました
2018/04/09 Ⅲ号館共通機器室の運用開始について(通知)

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機器一覧

画像機器名機器分類型式説明設置場所管理責任者
 
 
 
 
 
2016002.jpg凍結組織切片作製装置(2016002)標本作製ティシュー・テック ポーラーB試料台と刃物台周辺に冷却機能を持たせることで庫内が充分に冷却され、脂肪を含む組織の薄切時においても質の高い薄切を実現し、鮮明な標本を作製することが可能共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
K2014004.jpgデジタル式透過型電子顕微鏡(K2014004)電子顕微鏡HT7700 他観察対象に電子線をあて、透過してきた電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡総合研究棟I号館 1階 W1408室佐々木 基樹(sasakim)
2014063.jpg湯浴式パラフィン伸展器(2014063)標本作製PS-125WH薄切後、湯浴伸展のみでは伸展しにくい切片に使用するホットプレート装備共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
K2015010.jpg分光測色計(K2015010)測定・分析装置CM2600d色の測定装置(SCI(正反射光含む)とSCE(正反射光除去)の同時測定可能)総合研究棟Ⅲ号館 6階 609号室3島田 謙一郎(kshimada)
K2015009.jpg分光測色計(K2015009)測定・分析装置CM-5,ターゲットマスクφ3mm CM-A195色の測定装置(SCI(正反射光含む)とSCE(正反射光除去)の同時測定及びレアメタル、有機EL、創薬などの高額な粉の微量測定が可能)総合研究棟Ⅲ号館 6階 609号室2島田 謙一郎(kshimada)
32017001.JPG吸光マイクロプレートリーダー(32017001)測定・分析装置Multiskan FC アドバンス米国サーモフィッシャーサイエンティフィック社  吸光度測定とデータ処理を誰でも簡単に実行可能共通機器室(Ⅲ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
2016003.JPG次世代シークエンサー(2016003)シークエンサーMiseqシステム米国イルミナ社製  ショートリード、ハイスループットの次世代シーケンサー。ターゲットリシーケンスやメタゲノム、小さいゲノムサイズの全ゲノムシーケンスなどの用途に使用可能   ※予約前に共用機器基盤センターに連絡を行い、日程及び時刻を調整してください。※共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
2014062.jpgパラフィン伸展器(2014062)標本作製PS-53病理標本作成において薄切検体を伸展・乾燥させる装置共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
2014068.jpgパラフィン伸展器(2014068)標本作製PS-53病理標本作成において薄切検体を伸展・乾燥させる装置共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
K2015007.jpg落射蛍光顕微鏡他一式(K2015007)顕微鏡落射蛍光顕微鏡(BX53-33-FL-2),顕微鏡デジタルカメラ(DP72-SET-A-2)生体または非生体試料からの蛍光・燐光現象を観察することによって、対象を観察する蛍光顕微鏡、落射照明(同軸照明)で励起光を照射総合研究棟Ⅲ号館 5階 512室福田 健二(fuku)