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当サイトのご利用について
お知らせ
共通機器室の機器を利用する際には、共通機器室利用登録申請を行い、本サイトから機器の予約を行ってください。機器を利用した際には、機器に備え付けてある使用簿に必要事項を記載してください。
教員が管理する共通機器を利用する際には、管理教員と連絡調整の上使用してください。

○共通機器に関する規程、様式、注意事項等

○利用マニュアル

問い合わせ先:共用機器基盤センター(研究支援課研究企画係)
TEL:0155-49-5342、5287
FAX:0155-49-5289
E-mail:kyotukiki@obihiro.ac.jp
2018/07/10 故障中の機器について
2018/06/14  7月4日、11日開催 機器説明会のお知らせ
2018/06/11  7月13日(金)高速冷却遠心機CR21GⅢ、微量高速遠心機CF16RXⅡ保守点検について
2018/04/17 共通機器室の利用実績を公開しました
2018/04/10 共通機器の基本料及び利用料単価表(機器一覧)を更新しました

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機器一覧

画像機器名機器分類型式説明設置場所管理責任者
 
 
 
 
 
K2015001.jpgマイクロプレートリーダ(K2015001)測定・分析装置ジェニオスプロ-4物理学・化学・生物学の実験や検査などで広く用いられ、マイクロプレートに入れた多数のサンプル(主として液体)の光学的性質を測定する機器、インジェクター付き、蛍光、TRF、吸光、グロー発光及びフラッシュ発光測定用。総合研究棟Ⅳ号館 2階 213室小川 晴子(hogawa)
2014067.jpgオートマチックプラントミクロトーム(2014067)標本作製MT-3生のままの植物試料から、パラフィン包埋、凍結などの前処理なしで、簡単に、薄く、均一な、再現性の高い組織切片を作製する共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
K2015007.jpg落射蛍光顕微鏡他一式(K2015007)顕微鏡落射蛍光顕微鏡(BX53-33-FL-2),顕微鏡デジタルカメラ(DP72-SET-A-2)生体または非生体試料からの蛍光・燐光現象を観察することによって、対象を観察する蛍光顕微鏡、落射照明(同軸照明)で励起光を照射総合研究棟Ⅲ号館 5階 512室福田 健二(fuku)
2014062.jpgパラフィン伸展器(2014062)標本作製PS-53病理標本作成において薄切検体を伸展・乾燥させる装置共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
2014068.jpgパラフィン伸展器(2014068)標本作製PS-53病理標本作成において薄切検体を伸展・乾燥させる装置共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
2016003.JPG次世代シークエンサー(2016003)シークエンサーMiseqシステム米国イルミナ社製  ショートリード、ハイスループットの次世代シーケンサー。ターゲットリシーケンスやメタゲノム、小さいゲノムサイズの全ゲノムシーケンスなどの用途に使用可能   ※予約前に共用機器基盤センターに連絡を行い、日程及び時刻を調整してください。※共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
32017001.JPG吸光マイクロプレートリーダー(32017001)測定・分析装置Multiskan FC アドバンス米国サーモフィッシャーサイエンティフィック社  吸光度測定とデータ処理を誰でも簡単に実行可能共通機器室(Ⅲ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)
K2015009.jpg分光測色計(K2015009)測定・分析装置CM-5,ターゲットマスクφ3mm CM-A195色の測定装置(SCI(正反射光含む)とSCE(正反射光除去)の同時測定及びレアメタル、有機EL、創薬などの高額な粉の微量測定が可能)総合研究棟Ⅲ号館 6階 609号室2島田 謙一郎(kshimada)
K2015010.jpg分光測色計(K2015010)測定・分析装置CM2600d色の測定装置(SCI(正反射光含む)とSCE(正反射光除去)の同時測定可能)総合研究棟Ⅲ号館 6階 609号室3島田 謙一郎(kshimada)
2014063.jpg湯浴式パラフィン伸展器(2014063)標本作製PS-125WH薄切後、湯浴伸展のみでは伸展しにくい切片に使用するホットプレート装備共通機器室(Ⅰ号館)共用機器基盤センター長(kyotusys)